高温铁电测试仪可以测量铁电材料的电滞回线,饱和极化Ps、剩余极化Pr、矫顽场Ec、漏电流、疲劳、保持、I-V和开关特性等性能的测试,能够较测量铁电薄膜的铁电性能。目前该系统测量温度800°C,可配置薄膜和块体测量夹具,可广泛应用于薄膜、厚膜和块状陶瓷、铁电器件及存储器等领域的研究。
高温铁电测试仪测试系统采用虚地模式测量电路,与传统的Sawyer-Tower模式相比,此电路取消了外接电容,可减小寄生元件的影响。此电路的测试精度仅取决于积分器积分电容的精度,减少了对测试的影响环节,比较容易定标和校准,并且能实现较高的测量度,它不仅能画出铁电薄膜的电滞回线,还可以定量得到铁电薄膜材料的饱和极化ps、剩余极化Pr、矫顽场Ec、漏电流Ik等参数,以及对铁电薄膜材料铁电疲劳性能、铁电保持性能的测试。能够较测量铁电薄膜的铁电性能。仪器采用一体化设计,实现测试结果全数字化,操作简单方便。
高温铁电测试仪应用领域
1.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流等特性。
2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应。
3.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性。