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日期:2018-12-29浏览:2138次
高频介电常数介质损耗测试仪规格与技术参数
一 华测高频介电常数介质损耗测试仪产品简介
高频介损及介电常数测试仪能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。主要用于测量玻璃、陶瓷等材料在高频信号下的介损、介电常数。
二 华测高频介电常数介质损耗测试仪规格
型号 | HCJDCS-B | HCJDCS-A | HCJDCS-C |
工作频率范围 | 50kHz~50MHz | 1kHz~70MHz | 50kHz~160MHz |
Q值测量范围 | 1~1000 | 5~599 | 1~1000 |
可调电容范围 | 40~500 pF | 40~500 pF | 13~230 pF |
电容测量误差 | ±1%±1pF | ±1%±1pF | ±1%±0.5pF |
Q表残余电感值 | 约20nH | 约20nH | 约8nH |
三 华测高频介电常数介质损耗测试仪工作特性:
1.Q值测量:
a.Q值测量范围:2~1023;
b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;
c.标称误差
频率范围 | 25kHz~10MHz |
固有误差 | ≤5%±满度值的2% |
工作误差 | ≤7%±满度值的2% |
频率范围 | 10MHz~60MHz |
固有误差 | ≤6%±满度值的2% |
工作误差 | ≤8%±满度值的2% |
2.电感测量范围:14.5nH~8.14H
电容测量:
直接测量范围 | 1~460p |
主电容调节范围 | 40~500pF |
度 | 150pF以下±1.5pF; |
注:大于直接测量范围的电容测量见使用方法。
华测高频介电常数介质损耗测试仪信号源频率覆盖范围
频率范围 | 10kHz~60MHz |
CH1 | 10~99.9999kHz |
CH2 | 100~999.999kHz |
CH3 | 1~9.99999MHz |
CH4 | 10~60MHz |
频率指示误差 | 3×10-5±1个字 |
3.Q合格指示预置功能:预置范围:5~1000
4.正常工作条件
a. 环境温度:0℃~+40℃;
b.相对湿度:<80%;
c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
5.其他
a.消耗功率:约25W;
b.净重:约7kg;
c. 外型尺寸:(宽×高×深)mm:380×132×280。
华测高频介电常数介质损耗测试仪仪器特点:
☆接线简单(正接法两根线,反接可使用一根线),电缆线均有接地屏蔽,所以都能拖地使用,测量电压缓升、缓降,全自动测量,结果直读,无须换算。
多种测量方式 可选择正/反接线、内/外标准电容器和内/外试验电压进行测量。正接线可测量高压介损。
抗震性能 仪器可承受长途运输中强烈震动颠簸而不会损坏。
抗干扰力强 采用自动跟踪干扰抵偿电路,将矢量运算法与移相法结合,有效地消除强电场干扰对测量的影响,适用于500kV及其以下电站的现场试验。
CVT测量 *自激法测量CVT功能,不需外加任何设备,可完成不可拆头CVT的测量。一次接线(三根电缆,不用倒线),一个测量过程(大约1分钟),
两个终测量结果(C1和C2的介损及电容值)。测量过程中文显示,能实时监测自激电流值和试验电压(高压)值。能消除引线对测试的影响,测量结果可靠。
*全措施
(1)高压保护:试品短路、击穿或高压电流波动,能迅速切断高压输出。
(2)CVT保护:设定自激电压的过流点,一旦超出设置的电流值,仪器自动退出测量,不会损坏设备。
(3)接地检测:仪器有接地检测功能,未接地时不能升压测量。
(4)防误操作:具备防误操作设计,能判别常见接线错误,*全报警。
(5)防“容升”:测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应,仪器能自动跟踪输出电压,保持试验电压恒定。
VFD显示 采用新颖的大屏幕VFD点阵显示器,在严冬和盛夏都能清晰显示。全中文操作菜单,操作提示各种警告信息,直观明了,不需查阅说明书即可操作。
打印仪器附有微型打印机,以中文方式打印输出测量结果及状态。
RS232 仪器具有RS232接口,与计算机连接便于数据的统计和处理及保存。可选购与计算机通信应用程序。
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